thumb|350px|Profilometr stykowy Surtronic 3P
Profilometr – przyrząd pomiarowy służący do pomiaru parametrów chropowatości i falistości powierzchni. Na podstawie topografii powierzchni obliczane są wymiary krytyczne takie jak krzywizna i płaskość.
Pod względem historycznym pojęcia "profilometr" używano do określenia urządzenia podobnego do fonografu, który mierzy topografię podczas przemieszczania się powierzchni badanej względem igły profilometru stykowego. Jednak pojęcie to zmienia się wraz z pojawieniem się wielu bezkontaktowych technik profilometrycznych.
W zależności od metody pomiaru rozróżniamy: profilometry kontaktowe: profilometr stykowy mikroskopia sił atomowych (ATM) skaningowa mikroskopia tunelowa profilometry bezkontaktowe optyczne oparte na interferometrii: cyfrowa mikroskopia holograficzna interferometria światła białego różnicowa mikroskopia kontrastowo-interferencyjna (mikroskopia Nomarskiego) oparte na metodzie rzutowania: profilometria Fouriera, metoda mory cieniowej metody odbicia wzorcowego Współczesne profilometry mierzą nie tylko statyczną topografię, ale również dynamiczne zmiany na powierzchni w czasie rzeczywistym.