miniatura|Microscopi electrònic de transmissió d'escaneig d'ultra alt buit. Un microscopi electrònic de transmissió i rastreig (STEM, de l'anglès scanning transmission electron microscope) és un tipus de microscopi electrònic de transmissió (TEM, de l'angles transmission electron microscope) amb característiques típiques de microscopis electrònics de rastreig o SEM (de l'anglès scanning electron microscope). Com passa amb un microscopi electrònic de transmissió convencional (CTEM), les imatges estan formades per electrons que passen a través d'una mostra prima. No obstant això, a diferència de CTEM, en la microscòpia STEM el feix d'electrons està enfocat en un punt amb una mida típica de 0,05 - 0,2 nm, que s'escaneja sobre la mostra de manera que s'il·lumini en cada punt amb el feix paral·lel a l'eix òptic del microscopi. El rastreig amb el feix a través de la mostra fa que la tècnica STEM sigui adequada per a tècniques analítiques com ara el mapatge espectroscòpic mitjançant espectroscòpia de raigs X per dispersió d'energia (EDXS, de l'anglès energy-dispersive X-ray spectroscopy) o l'espectroscòpia per pèrdua d'energia d'electrons (EELS, de l'anglès electron energy loss spectroscopy). Aquests senyals, que es poden obtenir simultàniament, permeten una correlació directa entre les imatges obtingudes i les dades espectroscòpiques.
Normalment els aparells STEM són microscopis electrònics de transmissió, o microscopis electrònics de rastreig convencionals equipats amb bobines d'exploració addicionals, així com amb els detectors i circuits necessaris, que li permeten canviar entre funcionar com a STEM o com a CTEM; no obstant, també es fabriquen STEM dedicats.
Els microscopis electrònics de transmissió de rastreig d'alta resolució requereixen ambients excepcionalment estables. Per obtenir imatges de resolució atòmica amb STEM, els nivells de vibració, les fluctuacions de temperatura, les ones electromagnètiques i les ones acústiques han d'estar controlats en la sala on s'allotja el microscopi.
Referències
Categoria:Microscopis Categoria:Nanotecnologia Categoria:Ciència de materials