Interakcí dopadajících elektronů s materiálem (hmotou obecně) vznikají následující detekovatelné složky: sekundární elektrony (SE) odražené elektrony (BSE – Backscattered electrons) Augerovy elektrony (AE) rentgenové záření (RTG, X-Rays) katodoluminiscence prošlé elektrony (TE – Transmited electrons) absorbované elektrony (absorbovaný proud)
Tohoto jevu se využívá především k diagnostice v lékařství a defektoskopii (rentgenové záření) a v rastrovacím elektronovém mikroskopu, případně v mikrosondě, k zjištění lokálních vlastností zkoumaného materiálu. Týž jev je také příčinou vzniku rentgenového záření při interakci elektronů kosmického záření s molekulami plynů zemské atmosféry.
Kategorie:Jaderná fyzika