Ультрамикроскоп — оптический прибор для обнаружения частиц столь малых размеров, что их нельзя наблюдать в обычные микроскопы. В ультрамикроскоп наблюдаются не сами частицы, а большие по размерам пятна дифракции света на них. При сильном боковом освещении каждая частица выглядит как яркая точка на темном фоне. Ультрамикроскоп не дает оптические изображения исследуемых объектов. В зависимости от конструкции, параметров частиц и среды можно обнаружить частицы размерами от 0,02…0,05 до 1…5 мкм.Ультрамикроскоп//Физическая энциклопедия. Том 5. Стробоскопические приборы — яркость —М.: Большая Российская энциклопедия, 1998 Для взвеси металлических частиц в воде возможно обнаружение частиц размером 0,002 мкм.Микроскопия оптическая//Физическая энциклопедия. Том 3. Магнитоплазменный — Пойнтинга теорема —М.: Большая Российская энциклопедия, 1992Ультрамикроскопия//Химическая энциклопедия. Том 5. ТРИ — ЯТР —М.: Большая Российская энциклопедия, 1998 Пределы разрешения наиболее сильных оптических микроскопов составляют 0,2 мкм.Микроскоп оптический//Физическая энциклопедия. Том 3. Магнитоплазменный — Пойнтинга теорема —М.: Большая Российская энциклопедия, 1992Микроскоп оптический//Новый политехнический словарь —М.: Большая Российская энциклопедия, 2000 Ультрамикроскопия является частным случаем метода темного поля в проходящем свете, при освещении направленном перпендикулярно направлению наблюдения.Оптика неоднородных сред//Физическая энциклопедия. Том 3. Магнитоплазменный — Пойнтинга теорема —М.: Большая Российская энциклопедия, 1992
Использование Ультрамикроскопия позволяет определять концентрацию неоднородностей и изучать их природу. При необходимости определения их размеров используют нефелометрию. При этом в качестве параметра частицы в рамках дисперсионного анализа с помощью ультрамикроскопа или проточного ультрамикроскопа могут измерять интенсивность света, рассеянного отдельной частицей.Дисперсионный анализ//Химическая энциклопедия. Том 2. ДАФ — МЕД —М.: Большая Российская энциклопедия, 1990 Ультрамикроскоп может применяться не только для изучения частиц, которые не могут быть обнаружены микроскопом, но и для всех случаев когда важно число и движение частиц, а форма и их строение роли не играет.Дерягин Б. В., Власенко Г. Я. Поточная ультрамикроскопия//Природа N 11 ноябрь, 1953
Применяется при исследовании дисперсных систем, для контроля чистоты воздуха и воды и т. д.
Примером использования ультрамикроскопа для изучения наночастиц может служить метод анализа траекторий наночастиц.
Устройство Работа ультрамикроскопа основана на эффекте Тиндаля.Тиндаля эффект//Физическая энциклопедия. Том 5. Стробоскопические приборы — яркость —М.: Большая Российская энциклопедия, 1998 Щелевой ультрамикроскоп в 1903 году создали Генри Зидентопф и Рихард Зигмонди. Поточный ультрамикроскоп был разработан в 1940—1950-х годах Б. В. Дерягиным и Г. Я. Власенко.
См. также Оптический микроскоп Сканирующий атомно-силовой микроскоп (AFM, SPM) Сканирующий туннельный микроскоп (STM) Сканирующий электронный микроскоп (SEM) Сканирующий ёмкостной микроскоп (SCM) Просвечивающий электронный микроскоп (TEM) Микроскоп ближнего поля (SNOM) Оптические системы
Примечания
Категория:Микроскопы Категория:Оборудование для физических экспериментов Категория:Коллоидная химия